Non-Destructive Test (NDT) 无损分析
SAM 高频声扫
Texturing (surface morphology) 表面形貌分析
Optical Profiler，SEM，TEM
Film type and thickness 薄膜类型及厚度分析
SEM/EDS，TEM/EDS
Cell structure 太阳能电池结构分析
SEM/EDS，TEM/EDS
Substrate defects (crystalline defects) 衬底缺陷（晶体缺陷）分析
TEM，SEM，EMMI
Failure Analysis 失效分析
SAM，FIB，TEM，SEM
可靠性测试
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工作速度：5分
工作质量：5分
工作态度：5分
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