硅片,是制作集成电路的重要材料,通过对硅片进行光刻、离子注入等手段,可以制成各种半导体器件。 用硅片制成的芯片有着惊人的运算能力。
硅片检测范围
单晶硅片、太阳能硅片、多晶硅片、半导体硅片等。
硅片检测项目
质量检测、厚度检测、隐裂检测、工业问题诊断、表面有机物检测、电阻率检测、压阻系数、表面粗糙度检测、反射率检测、翘曲度检测、微量元素检测、碳氧含量检测、结晶度检测等。
检测标准| 产品名称 | 检测标准 | 检测项目 |
| 硅片 | GB/T 6617-2009 | 硅片电阻率测定 扩展电阻探针法 |
| 硅片 | GB/T 26067-2010 | 硅片切口尺寸测试方法 |
| 硅片 | GB/T 29505-2013 | 硅片平坦表面的表面粗糙度测量方法 |
| 硅片 | GB/T 29055-2019 | 太阳能电池用多晶硅片 |
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工作速度：5分
工作质量：5分
工作态度：5分
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