X射线衍射定量分析,XRD晶型分析

X射线衍射定量分析和XRD晶面分析，广州广分质检院。

X射线衍射定量分析设备信息

X射线衍射定量分析可进行试验

粘土矿物定量分析、钢中残余奥氏体含量的测定、无标样定量分析、二氧化钛颜料中锐钛型与金红石型比率、晶型结构分析、工业硅粉定量相分析 二氧化硅含量的测定 X射线衍射K值法等

A. 样品的平均晶粒尺寸

B. 样品的相对结晶度

C. 物相含量的定量分析

D. 用于点阵常数的精密计算，残余应力计算等

原理

X射线衍射分析（X-ray diffraction，简称XRD），是利用晶体形成的X射线衍射，对物质进行内部原

子在空间分布状况的结构分析方法。

仪器技术参数

小角衍射最小角可以达到0.4度，主要测量介孔材料和其他高分子复合材料。广角衍射：最低角度可以

达到5度，可以精确接收到小于10度的衍射峰。

（1）测量精度：角度重现性±0.0001°；测角仪半径≥200mm，测角圆直径可连续变

（2）最小步长0.0001°；角度范围（2θ）：-110～168°；温度范围：室温～900℃；

（3）最大输出：3KW；稳定性：±0.01%；管电压：20～60kV(1kV/1step)；管电流：10～60mA。 

送样要求

固体粉末：均匀干燥，粒度小于70um（过200目），质量不少于100 mg；

块体、金属及薄膜样品：需加工出一平整的表面，尺寸约为20mm×10mm×2mm

应用领域

物相分析，可以对物质的组成及物相进行表征分析.

定性、定量分析，通过精修可对物质的各组分进行精确的定量分析。

高温原位分析，通过高温原位可以研究温度对物质晶型转变的影响。

常见适用标准

通用标准和非通用标准都适用。