云南省分析测试中心 物理实验室 能够为客户提供材料分析，纳米材料分析，检测仪器及参数如下

1、场发射透射电子显微分析（FE-TEM）：

主要用于金属、半导体、陶瓷以及各种纳米材料的研究和技术开发，用于观察分析以上固体物质和材料的微观形貌/尺寸、晶体结构和相组织，及其相应微区化学成分的定性和半定量分析等。面向材料科学、化学、物理学、地质学、生物学、医学 、环境科学等领域的科学研究。

检测参数：（1）透射电子明场成像、（2）暗场成像、（3）扫描透射成像、（4）选区电子衍射、（5）高分辨成像、（6）点/线/面的能谱分析、（7）样品制备：精密切割 、精密减薄、离子减薄、凹坑、离子溅射、超声分散等。

2、  场发射扫描电子显微分析（FE-SEM）：

化学、物理学、材料科学、地质学、生物学、医学、环境科学等领域关于金属、半导体、陶瓷、纳米材料、功能材料、生物材料的研究和技术开发，用于观察分析以上固体物质料的表面形貌、组织、取向及成分。

检测参数：（1）二次电子形貌像、（2）被散电子衬度像、（3）背散射电子物相分析与相鉴定、（4）能谱元素点、线、面成分评定；（5）样品制备：金、铂、铬碳膜的制备。

3、  钨灯丝扫描电子显微分析（SEM）：

用于材料科学、地质学、化学、物理学、环境科学等领域的科学研究。主要面向金属及合金、半导体、陶瓷、矿物等的研究和技术开发，用于观察分析以上固体物质和材料的微观形貌/尺寸和相组织，及其相应微区化学成分的定性、半定量及定量分析。

检测参数：（1）二次电子形貌像、（2）被散电子衬度像、（3）能谱元素点、线、面成分评定；