扫描电子显微镜是目前常见的用于表面形貌观察的分析技术。具有高分辨率,较高的放大倍数;景深效果好,视野大,成像富有立体感,可直接观察各种试样凹凸不平表面的细微结构;试样制备简单;配有X射线能谱仪装置,可同时进行形貌观察和微区成分分析。
通过扫描电子显微镜观察材料表面形貌,为研究样品形态结构提供了便利,有助于监控产品质量,改善工艺。
观察的主要内容是分析材料的几何形貌、材料的颗粒度、及颗粒度的分布、物相的结构等。
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工作速度:5分
工作质量:5分
工作态度:5分
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