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锡须观察与测量

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锡须是在纯锡或锡合金镀层表面自发生长出来的一种细长形状的锡的结晶。在电子线路中,锡须会引起短路,降低电子器件的可靠性,甚至引发电子器件故障或失效。由于锡须通常在电镀之后几年甚至几十年才开始生长,因而会对产品的可靠性造成潜在的危害比较大。


出于环保、人类自身健康的考虑,我国以及日本、欧盟、美国等国家或地区相继出台相关法规或法令明文限制或禁止在电子电气设备中使用铅,使电子产品无铅化。电子行业无铅化的趋势,意味着电子工业中最广泛应用的Sn-Pb焊料将成为历史,同时广泛应用的Sn-Pb也将被新的金属或合金所取代,作为可能的替代者,纯Sn, Sn-Bi, Sn-Ag-Cu经研究表明,均有潜在的锡须自发生长问题。



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深圳市美信检测技术股份有限公司

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