X射线衍射仪技术(X-ray diffraction，XRD)。通过对材料进行X射线衍射，分析其衍射图谱，获得材料的成分、材料内部原子或分子的结构或形态等信息的研究手段。X射线衍射分析法是研究物质的物相和晶体结构的主要方法。当某物质(晶体或非晶体)进行衍射分析时,该物质被X射线照射产生不同程度的衍射现象,物质组成、晶型、分子内成键方式、分子的构型、构象等决定该物质产生特有的衍射图谱。X射线衍射方法具有不损伤样品、无污染、快捷、测量精度高、能得到有关晶体完整性的大量信息等优点。因此,X射线衍射分析法作为材料结构和成分分析的一种现代科学方法,已逐步在各学科研究和生产中广泛应用。

测试内容

1. D8 Advance X射线衍射谱中的衍射峰与晶体中的不同晶面为一一对应关系，可以标定出各个衍射峰对应的晶面指数。根据衍射峰的位置、衍射峰的强度和形状，通过索引已建立的XRD标准卡片库，可检索出样品中存在何种物相。;

2. 物相定性分析;结晶度及非晶相含量分析;结构精修及解析;物相定量分析;点阵参数精确测量;无标样定量分析;微观应变分析;晶粒尺寸分析;原位分析;残余应力;低角度介孔材料测量;织构及ODF分析;薄膜掠入射;薄膜反射率测量;小角散射

可检测范围

1.常用于无机物。

2.有机晶体单晶不合适。

3.角度5-80度，快扫，慢扫。

4.物相是定量分析，相对定量。